激光粒度儀進(jìn)行分檔測(cè)試的要點(diǎn)

點(diǎn)擊: 次時(shí)間:2017-03-03 10:34

本文簡(jiǎn)述了激光粒度儀分檔測(cè)試的原理與優(yōu)點(diǎn)，介紹了檔位的選擇與超量程的判斷方法。

　　匯聚光傅立葉變換光路，有人稱作“反傅立葉變換光路”，本人認(rèn)為稱作“反傅立葉變換光路”理論依據(jù)不足。本文一律稱作匯聚光路。

　　匯聚光路的的主要優(yōu)點(diǎn)有：1. 樣品池后置，克服了鏡頭有效孔徑對(duì)散射光的限制。

　　2. 大大縮短了儀器光路的長(zhǎng)度，減少了光學(xué)元件，提高儀器的可靠性。

　　3. 樣品池移動(dòng)，可以改變傅立葉變換系統(tǒng)的焦距，從而改變測(cè)量范圍，不需更換透鏡，做到一機(jī)多用。

　　4. 利于散射光散射角度增大，大大提高儀器分辨率。

　　對(duì)于一種未知粒度范圍的樣品選擇哪一檔測(cè)試呢?通常的方法是：先用任一檔測(cè)試。如果測(cè)試結(jié)果超量程，則改用更合適的量程測(cè)試。

　　超量程的判斷依據(jù)是，任何顆粒群的粒度分布曲線的高度都應(yīng)該是從0開始到0結(jié)束。在有限的測(cè)量范圍內(nèi)，邊界顆粒的粒度分布如果大于0 ，則可認(rèn)為該顆粒群超過(guò)測(cè)試范圍。

　　如果分布曲線在右側(cè)邊界大顆粒陡然下降，則說(shuō)明此樣品還有大顆粒超過(guò)量程，則應(yīng)改變更大的檔量程重新再測(cè)。

　　如果測(cè)試結(jié)果中分布曲線在左方小顆粒邊界陡然下降，則說(shuō)明此樣品還有更小顆粒沒(méi)有測(cè)到。應(yīng)改變更小一檔量程重新再測(cè)。

　　如果被測(cè)試的樣品很寬，試測(cè)時(shí)超上限，再測(cè)時(shí)超下限則可用微納公司提供的粒度分布合并程序，將兩次不同檔位的測(cè)試結(jié)果合并成為一個(gè)完整的粒度分布結(jié)果.

上一篇：解析粒度測(cè)試的基本知識(shí)和概念及使用方法下一篇：解析粒度測(cè)試的基本知識(shí)和概念及使用方法

***久久精品亚洲国产,亚洲人成在线观看一区二区,亚洲欧美人妖另类激情综合区

激光粒度儀進(jìn)行分檔測(cè)試的要點(diǎn)

點(diǎn)擊: 次 時(shí)間:2017-03-03 10:34

點(diǎn)擊: 次時(shí)間:2017-03-03 10:34